鍍層膜厚儀是對(duì)加工業(yè)和精細(xì)工業(yè)產(chǎn)品表層進(jìn)行測(cè)量使產(chǎn)品的質(zhì)量達(dá)到的重要設(shè)備手段，我國(guó)為了使我們的產(chǎn)品能夠有化的水準(zhǔn)對(duì)于鍍層膜厚儀都提出了非常明確高指標(biāo)的要求，以此來規(guī)范的避免影響鍍層膜厚儀測(cè)量的因素，面小編來給大家介紹一下影響鍍層膜厚儀測(cè)量的因素。
　　一、基體金屬的選擇
　　基體金屬的選擇于試件的測(cè)試是息息相關(guān)的，首先專業(yè)的鍍層膜厚儀分有磁性方法和渦流方法，兩種方法對(duì)于鍍層膜厚儀的基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片都有不一樣的磁性和電性要求，必須要對(duì)號(hào)入座的進(jìn)行測(cè)量匹配，并且基體金屬的厚度對(duì)于我們的測(cè)量也有一定的影響。
　　二、測(cè)試時(shí)的環(huán)境和條件
　　鍍層膜厚儀一的測(cè)試本身是非常方便的，它的出現(xiàn)極大的提高了我們對(duì)于產(chǎn)品測(cè)量的效率，但是我們?cè)跍y(cè)量的時(shí)候需要注意到測(cè)量的環(huán)境以及必要的測(cè)量條件，首先我們需要注意測(cè)量時(shí)周圍的磁場(chǎng)環(huán)境，磁場(chǎng)過高或不穩(wěn)定都會(huì)對(duì)我們的測(cè)量數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，其次潮濕的環(huán)境也是不利于我們的測(cè)量，而基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片與試件本身的一些條件也會(huì)影響到我們的測(cè)量數(shù)據(jù)，例如鍍層膜厚儀基體金屬片表層的粗糙程度等等。
　　三、測(cè)量時(shí)的一些其它影響因素
　　我們?cè)谶M(jìn)行測(cè)量的時(shí)候要注意到試件表面要保持清潔不能有異物遮擋，并且即便是可信賴的鍍層膜厚儀在測(cè)量時(shí)也都容易受到一些突然變化的影響所以我們要避免在試件的曲面和邊緣進(jìn)行測(cè)量。
　　我們選擇到了一個(gè)的度量測(cè)厚儀并不意味著我們的測(cè)量數(shù)據(jù)就會(huì)一定的準(zhǔn)確，因?yàn)樵跍y(cè)量過程中總會(huì)有一些細(xì)微的影響因素需要我們?nèi)プ⒁?，只有處理好這些影響因素才會(huì)使我們的鍍層膜厚儀能夠真正的發(fā)揮出其應(yīng)有的作用。